研讨会简介
美国国家仪器公司(NI)为工程师和科学家提供了面向测试测量与控制的完整平台。借助革新式的图形化系统设计，以及软硬件的无缝连接等特点，在显著减少系统构建时间和成本的同时，带来灵活与自定义的测控应用。
本场研讨会，NI资深工程师会带您深入了解测试测量与控制的核心平台及前沿技术，帮助您实现测试、测量与控制的创新型应用。
与此同时，在研讨会中，NI工程师还将穿插各种精彩的应用演示，帮助您更好地理解NI各类软硬件产品的强大功能！